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GB/T2423.1-2008A2009年10月1日开始实施，替代原替代GB/T 2423.1-2001标准所使用。GB/T2423.1-2008A规定的低温试验适用非散热和散热试验样品。
GB/T2423.1-2008A代替GB/T 2423.1-2001《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》，与之相比，主要变化如下：
——删除了试验Aa：非散热试验样品温度突变的低温试验;
——删除了附录A、附录B、附录C、附录D、附录E;
——增加了试验Ae：散热试验样品温度渐变的低温试验——试验样品在整个试验过程通电。
GB/T 2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异，增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。
本低温试验的目的**于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。
本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB/T 2423.22。
本低温试验方法细分为以下几种：
——非散热试验样品低温试验：
●试验Ab，温度渐变。
——散热试验样品低温试验：
●试验Ad，温度渐变;
●试验Ae，温度渐变，试验样品在整个试验过程通电。
本部分给出的试验方法通常用于试验期间能达到温度稳定的试验样品。
