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电源高温老化试验箱

简要描述:

电源高温老化试验箱
专业用于电路板,元器件,PCB等产品的高低温测试设备——高低温试验箱,专业性强,是电子行业测试设备。
电路板高低温测试箱,就选勤卓环测科技。我司先后为电路板,PCB,电子产品等企业,提供过专业的高低温试验箱和试验方案。
一、半导体高低温测试箱特点:高低温试验箱采用*触摸屏式人机介面温度控制器,*全封闭式压缩机,整机性能稳定,操作简便,易于安装,控制技术达到目前国

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电源高温老化试验箱 电源高温老化试验箱

专业用于电路板,元器件,PCB等产品的高低温测试设备——高低温试验箱,专业性强,是电子行业测试设备。
电路板高低温测试箱,就选勤卓环测科技。我司先后为电路板,PCB,电子产品等企业,提供过专业的高低温试验箱和试验方案。
一、半导体高低温测试箱特点:高低温试验箱采用*触摸屏式人机介面温度控制器,*全封闭式压缩机,整机性能稳定,操作简便,易于安装,控制技术达到目前水平、性价比明显优于同类进口设备,是进行高低温交变的理想设备。

二、半导体高低温测试箱用途:高低温试验箱又名环境试验箱,试验各种材料耐热、耐寒、耐干性能。适合电子、电器、食品、车辆、金属、化学、建材等工厂之用。高低温交变试验箱采用*人机介面温度控制器,性能可靠,操作简便,控制技术达到目前水平、性价比明显优于同类进口设备,是进行交变湿热试验的理想设备。

三、电路板高低温测试箱规格(单位:mm):(可按客户要求定做更大尺寸)
型号 CK-80G  内形尺寸:W×H×D 450×500×400   
型号 CK-150G 内形尺寸:W×H×D 500×600×500   
型号 CK-225G 内形尺寸:W×H×D 500×750×600   
型号 CK-408G 内形尺寸:W×H×D 600×850×800   
型号 CK-800G 内形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 
型号 CK-1000G内形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000

四、半导体高低温测试箱技术指标:
1、温度范围:-20℃~150℃、-40℃~150℃、-60℃~150℃、-70℃~150℃
2、温度均匀度:≤&plsmn;2℃ (空载时)
3、温度波动度:&plsmn;0.5℃ (空载时)
4、温度偏差:≤&plsmn;2℃
5、降温速率:0.7~1.2℃/min
6、升温速度:1.0~3.0℃/min

五、半导体高低温测试箱结构简介:
1、外胆均采用S304钢板数控机床加工成型,外壳表面进行喷塑处理,更显光洁、美观。
2、内胆采用进口高级不锈钢(SS304)镜面板。
3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm
4、温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机,耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流 垂直扩散循环。
5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭

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