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电子产品温度老化测试高低温试验箱，是根据不同的需求而定的，温度和规格尺寸，决定了该系列高低温试验箱的不同价格，详细的高低温试验箱价格，我司市场部查询。
电子产品温度老化测试高低温试验箱
一、高低温的用途
该设备主要是针对于电工、电子产品，以及其原器件，及其它材料在高温、低温、湿热及其循环变化的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。
该试验设备主要用于对产品按照标准要求或用户自定要求，在低温、高温、高温高湿及其循环变化条件下，对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试，测试后，通过检测，来判断产品的性能，是否仍然能够符合预定要求，以便供产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。
电子产品温度老化测试高低温试验箱
二、高低温箱设备的主要技术指标
1 、温度范围：-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃～+100（150）℃
高低温交变试验机产品规格
型号:K-80T 内型尺寸:D×W×H 400×500×400
型号:K-150T 内型尺寸:D×W×H 500×600×500
型号:K-225T 内型尺寸:D×W×H 500×750×600
型号:K-408T 内型尺寸:D×W×H 600×850×800
型号:K-800T 内型尺寸:D×W×H1000×1000×800
型号:K-1000T内型尺寸: D×W×H1000×1000×1000
参照标准
GB/T5170.5-2008 湿热试验设备方法
GB/T10586-2006 湿热试验箱技术条件
GB/T2423.1-2008试验A 低温试验方法
GB/T2423.2-2008试验B 高温试验方法
GB/T2423.3-2006试验Ca 恒定湿热试验方法
GB/T2423.4-2008试验Db 交变湿热试验方法
0769-8220 5353
0769-8220 5560
0769-8220 5656
0769-8220 5757
18925802250
13609685030
免费咨询：189-2580-2250
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